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Atom Probe Tomography - 9781461369219

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Características del artículo

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Nuevo: Libro nuevo, sin usar y sin leer, que está en perfecto estado; incluye todas las páginas sin ...
Book Title
Atom Probe Tomography
ISBN
9781461369219
Subject Area
Mechanical Engineering
Publication Name
Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level
Publisher
Springer-Verlag New York Inc.
Subject
Engineering & Technology
Publication Year
2012
Type
Textbook
Format
Paperback
Language
English
Item Height
244mm
Author
Michael K. Miller
Item Width
170mm
Item Weight
462g
Number of Pages
239 Pages

Acerca de este producto

Product Information

The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution. Therefore, atom probe tomography provides a technique for acquiring atomic resolution three dimensional images of the solute distribution within the microstructures of materials. This monograph is designed to provide researchers and students the necessary information to plan and experimentally conduct an atom probe tomography experiment. The techniques required to visualize and to analyze the resulting three-dimensional data are also described. The monograph is organized into chapters each covering a specific aspect of the technique. The development of this powerful microanalytical technique from the origins offield ion microscopy in 1951, through the first three-dimensional atom probe prototype built in 1986 to today's commercial state-of-the-art three dimensional atom probe is documented in chapter 1. A general introduction to atom probe tomography is also presented in chapter 1. The various methods to fabricate suitable needle-shaped specimens are presented in chapter 2. The procedure to form field ion images of the needle-shaped specimen is described in chapter 3. In addition, the appearance of microstructural features and the information that may be estimated from field ion microscopy are summarized. A brief account of the theoretical basis for processes of field ionization and field evaporation is also included.

Product Identifiers

Publisher
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN-13
9781461369219
eBay Product ID (ePID)
149019048

Product Key Features

Subject Area
Mechanical Engineering
Author
Michael K. Miller
Publication Name
Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level
Format
Paperback
Language
English
Subject
Engineering & Technology
Publication Year
2012
Type
Textbook
Number of Pages
239 Pages

Dimensions

Item Height
244mm
Item Width
170mm
Item Weight
462g

Additional Product Features

Title_Author
Michael K. Miller
Country/Region of Manufacture
United States

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