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Beam Injection Assessment of Defects in Semiconducto...

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N.º de artículo de eBay:145190627859

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Estado: En muy buen estado: Libro que se ha leído y que no tiene un aspecto nuevo, pero que está en un ... En muy buen estado: Libro que se ha leído y que no tiene un aspecto nuevo, pero que está en un estado excelente. No hay desperfectos visibles en la tapa y se incluye sobrecubierta, si procede, para las tapas duras. Todas las páginas están en perfecto estado, sin arrugas ni roturas y no falta ninguna. El texto no está subrayado ni resaltado de forma alguna, y no hay anotaciones en los márgenes. Puede presentar marcas de identificación mínimas en la contraportada o las guardas. Muy poco usado. Consulta el anuncio del vendedor para obtener más información y la descripción de cualquier posible imperfección. Ver todas las definiciones de estadose abre en una nueva ventana o pestaña

Title: Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors: Volume...

Book Title: Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors: Volume...

Contributor: Edited by Otwin Breitenstein

ISBN: 390845039X

EAN: 9783908450399

Binding: Paperback

Genre: Physics

Height: 27.94

Length: 240.03

Width: 169.93

Release Title: Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors: Volume...

Artist: various

Brand: N/A

Colour: N/A

Subject Area: Material Science, Mechanical Engineering

Publication Name: Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors

Publisher: TRANS Tech Publications LTD

Subject: Physics

Publication Year: 1998

Type: Textbook

Format: Paperback

Language: English

Item Height: 240mm

Author: Martin Kittler, Wolfgang Schroeter, Otwin Breitenstein, A. Endroes

Item Width: 170mm

Item Weight: 1300g

Number of Pages: 550 Pages

Acerca de este producto

Product Information

The 5th International Workshop on Beam Injection Assess ment of Defects in Semiconductors (BIADS 98) focussed on many theoretical and experimental aspects of this topic. The aim was to bring together specialists working in the fields of both fundamental research and applications. There were more than 80 participants from 15 countries all over the world. The topics covered by the BIADS 98 program included: charge-collection microscopy and related methods, luminescence, near-field methods and STM, advanced methods and applications, application of beam injection to technology and to devices and teterostructures. This book should therefore be of interest to anyone working on defects in semiconductors.

Product Identifiers

Publisher

TRANS Tech Publications LTD

ISBN-13

9783908450399

eBay Product ID (ePID)

87640939

Product Key Features

Subject Area

Material Science, Mechanical Engineering

Author

Martin Kittler, Wolfgang Schroeter, Otwin Breitenstein, A. Endroes

Publication Name

Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors

Format

Paperback

Language

English

Subject

Physics

Publication Year

1998

Type

Textbook

Number of Pages

550 Pages

Dimensions

Item Height

240mm

Item Width

170mm

Volume

Volumes 63-64

Item Weight

1300g

Additional Product Features

Issn

1012-0394

Series Title

Solid State Phenomena

Country/Region of Manufacture

Switzerland

Editor

A. Endroes, Martin Kittler, Wolfgang Schroeter, Otwin Breitenstein

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