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YUSHI Dynamic Leeb Hardness Tester Probe DL Type Impact Device Set
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N.º de artículo de eBay:226846600982
Última actualización el 03 nov 2025 12:31:30 H.EspVer todas las actualizacionesVer todas las actualizaciones
Características del artículo
- Estado
- Country of Origin
- China
- Brand
- YUSHI
- Type
- Impact Device
- UPC
- 611702792904
- MPN
- P-301-0014
Descripción del artículo del vendedor
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Acerca de este vendedor
YUSHI INSTRUMENTS
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- l***a (224)- Votos emitidos por el comprador.Últimos 6 mesesCompra verificadaExcellent seller. Item arrived exactly as described .YUSHI Ultrasonic Contact Transducer 0.5MHz 25mm BNC Connector (#226066059102)
- d***6 (5)- Votos emitidos por el comprador.Último añoCompra verificadaItem as described, was shipped and packaged perfectly and they were prompt with filling the order.YUSHI Ultrasonic Straight Beam Probe UT Flaw Detector Transducer Dia 20mm 2.5MHz (#226023049472)
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